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SMR170 磁共振性能檢測模體——技術(shù)規(guī)格書

點(diǎn)擊次數(shù):167 發(fā)布時(shí)間:2024/8/3
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SMR170 磁共振性能檢測模體主要用于核磁共振研發(fā)測試,性能質(zhì)量評估,空間分辨力及成像線性度測試和低對比度靈敏度測試。測磁場均勻性、信躁比、T1,T2值、空間分辨率(高分辨率)、密度分辨率(低對比度)、幾何線性等。SMR170 磁共振性能檢測模體能夠符合YY/T0482-2022、JJF(京)30-2022等標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)要求,進(jìn)行對MRI設(shè)備性能進(jìn)行檢測。模體由一個(gè)10cm的立方體測試插件和丙烯酸材料的圓柱體組成;圓柱體的外徑為20 厘米,內(nèi)徑為 19 厘米。如圖A.1所示。